BS1363-2의 접촉 효과를 위한 후퇴 당김 게이지 그림 16

6 유형 테스트를 위한 일반 조건

6.1 모든 시험은 형식 시험이어야 한다.

이 부분에서 달리 명시하지 않는 한 학사 1363 소켓 콘센트는 제조업체 또는 책임 있는 공급업체가 배송한 대로 정상적인 사용 조건, 주변 온도 20 ℃ ±5 °C, 일반 실험실 온도 및 습도 수준에서 최소 4일 동안 조절한 후 테스트해야 합니다.

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제조업체가 별도로 명시하지 않는 한 매립형 콘센트는 BS 4662:2006+A1:2009의 치수 요구 사항을 준수하는 해당 상자에 장착할 때 테스트해야 하며 고정 나사는 0.6Nm ±10%의 토크로 조여야 합니다. .

다른 유형은 제조업체의 지침에 따라 장착되어야 합니다. 선언된 IP 등급이 있는 콘센트는 제조업체의 지침 및 사용 조건에 따라 장착될 때 완전한 조립품(소켓 콘센트 및 외함)으로 테스트되어야 합니다.

개별적으로 보호되는 소켓 콘센트(IPS)는 배송된 상태에서 테스트되어야 합니다.
개별적으로 보호되는 콘센트(IPS)는 특정 시험에서 달리 명시되지 않는 한 고정형 콘센트로 시험되어야 합니다.

상자 또는 인클로저는 제조업체가 지정한 대로여야 합니다.
비고 1 개별적으로 보호되는 콘센트(IPS)는 BS 6396의 범위 내에서 전기 시스템에 사용되는 것과 같은 장비 또는 인클로저에 통합하기 위한 것입니다. IPS는 제조업체의 지침에 따라 고정형이거나 휴대형일 수 있으며 완전한 제품과 통합될 수 있습니다. 표면 액세서리에 조립(예: 가구)하거나 해당 상자에 장착된 플러시 액세서리를 포함할 수 있습니다.

시험에 사용되는 콘센트는 시험 결과에 영향을 미칠 수 있는 모든 세부 사항에 관해 일반 생산 품목을 대표해야 합니다.

비교환형 콘센트에는 최소 1m 길이의 적절한 유연성 케이블이 함께 제공되어야 하며, 콘센트는 표 1에 주어진 전체 시험 시리즈에서 샘플이 실패하지 않으면 이를 준수하는 것으로 간주됩니다.

하나의 샘플이 표 1에 주어진 일련의 전체 테스트에서 실패하면 해당 유형의 콘센트는 콘센트가 정상을 대표하지 않는 것으로 나타나지 않는 한 BS 1363의 이 부분을 준수하지 못한 것으로 간주됩니다. 생산 또는 설계. 이 경우 추가 유형 테스트 샘플이 해당 특정 그룹의 테스트에 제출되어야 합니다. 이 재시험에서 실패가 없으면 해당 유형의 콘센트는 BS 1363의 이 부분을 준수하는 것으로 간주됩니다.
표 1에 주어진 일련의 전체 테스트에서 하나 이상의 샘플이 실패하면 해당 유형의 콘센트는 BS 1363의 이 부분을 따르지 않는 것으로 간주됩니다.
형식 시험의 경우 모든 시험은 시험 일정에 포함되어 있으며 지정된 순서에 따라 수행되어야 합니다.
비고 2 다양한 조항에서 특정 시험을 수행하는 것에 대한 언급은 일정과 다른 시험 순서를 나타내려는 의도가 아니며 별도의 추가 시험으로 수행되어서는 안 된다.

6.2 하나의 분류(7항 참조)에 대한 모든 검사 및 시험은 표 1의 시료 열에 있는 시료 수에 대해 나열된 조항에 명시된 대로 주어진 순서에 따라 수행되어야 합니다.
6.3 그림 11, 그림 12, 그림 14에 따른 게이지 그림 16a) and 그림 16b)은 측정된 값의 결과가 지정된 치수 내에 있고 95% 신뢰 수준 이상의 측정 불확도가 ±0.005mm를 초과하지 않는 경우 치수 요구 사항을 준수하는 것으로 간주됩니다.

BS1363-2의 접촉 효과를 위한 후퇴 당김 게이지 그림 16