EMI 측정 기법

전자기 간섭은 전자 장치를 생산할 때 해결하기 가장 어려운 문제 중 하나입니다. 로도 알려져 있습니다. EMI. 이러한 불가피한 간섭이 기기 성능에 미치는 영향을 주의 깊게 모니터링해야 합니다.

이것은 테스트 중인 기기의 전자기 호환성을 이해하고 정량화하기 위해 수행됩니다. 이러한 바람직하지 않은 간섭의 영향을 줄이기 위해 노력하여 실제 세계에서 장비를 사용할 수 있습니다. 이것은 EMI 수신기를 사용하여 수행할 수 있습니다. 이 기사에서 살펴볼 EMI 측정 기법.

EMI 수신기란 무엇입니까?

EMI 수신기 고성능 장비입니다. 이들은 데이터 수집에 사용됩니다. EMI 수신기 일시적인 신호가 발생할 수 있고 빠른 달성률이 필요한 상황에서 유용합니다. 예를 들어 EMC 테스트 챔버가 있습니다. 전자기 간섭은 케이블 전송을 방해하는 전자 노이즈입니다. 전자기 간섭에는 두 가지 유형이 있습니다. 전도 간섭과 복사 간섭이 있습니다.

EMI 표준은 의도한 대로 작동하지 못하게 할 수 있는 전자기 간섭으로부터 전자 회로를 보호하기 위해 고안되었습니다. 이러한 간섭으로 인해 장치가 오작동할 수 있습니다. 이것은 사용자에게 안전하지 않게 될 수 있습니다.

테스트 기준

EMI 수신기 국제 표준을 준수합니다. ISO 및 IEC 표준을 준수합니다. EMI 테스트 시스템은 LISUN 만나다 EMI-9KB.15:2018, CISPR16-1, GB17743, FCC, EN55015및 EN55022 원칙.

EMI 표준은 전자파 적합성 표준의 하위 집합입니다. EMC는 규제 표준입니다. 여기에는 장치가 달성해야 하는 성능 표준 목록이 포함되어 있습니다. 이것은 다른 장치와 공존할 수 있음을 보여줍니다. 또한 다른 장치의 성능을 손상시키지 않고 의도한 대로 작동할 수 있음을 보여줍니다.

EMI 측정 기법

EMI 측정 기술에는 적합성 테스트 및 사전 적합성 테스트가 포함됩니다. 모든 사전 준수 설정은 준수 테스트 설정과 매우 유사해야 합니다. 이것은 사용된 하드웨어, 소프트웨어 및 접근 방식과 관련이 있습니다.

EMI 발생을 돕는 세 가지 주요 구성 요소가 있습니다. 이들은 원치 않는 간섭의 원인으로 작용하는 이미 터입니다. 이러한 간섭에 반응하는 수신기. 마지막은 간섭을 소스에서 수신기로 전달하는 커플링 채널입니다. EMI 측정 기술에는 두 가지 주요 유형이 있습니다. 이것은 방출 테스트와 내성 테스트입니다.

방출 테스트

거의 모든 전자 기기는 전자기 오염원으로 작동합니다. 이는 의도적이든 비의도적이든 전도 또는 복사 방출 때문입니다. 이러한 원치 않는 방출은 전원 케이블, 전선, 저항기, 커패시터 및 기타 구성 요소에서 발생합니다.

GHz 주파수에 도달할 수 있습니다. 전도 방출의 경우 AC 전원 시스템을 통해 전송됩니다. 복사 방출의 경우 안테나를 통해 전송됩니다. 모든 전자 장비는 방출 테스트를 받아야 합니다.

이는 전자기 환경을 깨끗하고 다른 허용된 용도로 사용할 수 있도록 유지하기 위한 것입니다. 테스트 중인 장비는 이러한 유형의 테스트에서 이미 터입니다. 방출 테스트는 복사 및 전도 방출 모두에 대해 수행할 수 있습니다. EMI는 커플링 채널이 본질적으로 전도인 경우 전도 방출의 결과로 발생합니다. 복사 방출은 결합 채널이 복사 종류일 때 발생합니다.

복사 방출 테스트

30MHz–1GHz의 주파수 범위는 표준 복사 방출 테스트에 사용됩니다. 해당 파장은 각각 10m 및 0.3m입니다. 대형 기기에 대한 복사 방출 테스트에 대한 가장 빈번한 접근 방식 중 하나는 개방형 테스트 사이트입니다.

이러한 유형의 설정은 일반적으로 이론적으로 무한한 금속 접지면으로 구성됩니다. 케이블을 통해 EMI 수신기 또는 스펙트럼 분석기에 연결된 수신 안테나. 그리고 일반적으로 수신기에서 3m 또는 10m의 거리를 유지하는 피시험기기.

피시험기기의 가장 가까운 외부 표면과 수신 안테나 사이의 거리를 측정한다. 피시험기기와 수신기는 원거리 영역에서 측정을 수행할 수 있도록 상당한 거리를 두고 떨어져 있습니다. 이 영역에서 복사 필드는 근접 필드보다 더 안정적입니다.

수행된 방출 테스트

수행된 방출 테스트 전원 리드를 통해 로드된 장치로 방출되는 노이즈를 결정하는 데 사용됩니다. 이 노이즈는 장비 회로의 전압이나 전류의 급격한 변화로 인해 발생합니다.

원치 않는 소음은 연결된 장치에 치명적인 영향을 미칠 수 있습니다. 장비가 오작동할 수 있습니다. 방출 테스트를 수행하는 가장 일반적인 방법은 라인 임피던스 안정화 네트워크, 1X 방법, 프로브 및 TEM 셀입니다.

면역 테스트

방출 테스트와 내성 테스트는 반대입니다. EUT에서 나오는 소음은 방출 테스트 중에 측정되었습니다. 내성 시험은 EUT를 전자기적으로 적대적인 환경에 노출시키는 과정을 말합니다.

그런 다음 EUT의 성능이 변경되었는지 여부를 결정합니다. EUT의 작동은 변경 사항에 대해 모니터링됩니다. 그런 다음 이러한 변경 사항을 정량화하고 국제 또는 국가 표준과 비교합니다.

계측기는 이러한 표준을 통과하지 못하면 실제 세계에서 효과적으로 기능할 수 없습니다. 사전 적합성 또는 적합성 EMI 테스트를 위한 내성 측정에 사용되는 기술은 연속 및 일시적 테스트입니다.

지속적인 소스 면역 테스트

지속적인 내성 테스트는 EUT가 지속적인 노이즈 소스에 노출되었을 때 잘 작동하는지 확인하는 데 사용됩니다. 여기에는 태양 복사, 방송국, 자동차 및 자기장이 포함됩니다. 지속적인 소스 내성 테스트는 몇 분 또는 몇 분 동안 수행됩니다.

과도 소스 면역 테스트

전자기 간섭의 일시적인 원인에는 번개, 정전기 방전, 전압 변동 및 빠른 전환이 포함됩니다. 시스템 성능에 치명적인 영향을 미칠 수 있습니다. 비행기나 우주선에 탑재된 전자 장치는 EMI의 영향을 받습니다. 폭풍, 토네이도 및 기타 자연 재해를 모니터링하는 데 필요한 기상 장비도 일시적인 EMI의 피해자입니다.

따라서 이러한 이벤트에 대한 시스템의 허용 오차를 확인하는 것이 중요합니다. 그들에 대한 시스템의 내성은 시간 영역에서 테스트됩니다. 이는 과도 소스가 짧은 시간(수 밀리초 이하) 동안 상당한 양의 EM 복사를 방출하기 때문입니다.

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