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IEC 61032의 테스트 프로브 B – 관절형 테스트 핑거

제품 번호 : SMT-PB

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  • 상품 설명
  • Jointed Test Finger는 그림 2(그림 2)에 따라 제작된 정밀 테스트 프로브입니다. IEC61032 (테스트 프로브 B)는 사람의 손가락을 시뮬레이션하는 데 사용됩니다. 또한 CSA, IRAM, UL 표준 및 충전부에 대한 접근성 검증과 관련된 대부분의 규칙에서도 사용됩니다.

    기술적 인 매개 변수 :
    1. 널링 핑거 직경: 12mm
    2. 널링 핑거 길이: 80mm
    3. 배플 플레이트 직경: 50mm
    4. 배플 플레이트 길이: 100mm
    5. 배플 두께: 20mm

    어플리케이션:
    1. 표준 시험 널링 핑거 프로브의 연결 부분은 충전부에 닿거나 위험 부분에 가까워서는 안 되며, 50mm~20mm의 방벽판이 들어가면 안 됩니다.
    2. 감전방지시험에는 배선, 전원장치, 조명장치 등이 필요하다.

    배송 시 요청 사항:
    두 관절은 90°~+0° 허용 오차 내에서 10° 각도로 동일 평면 및 동일 방향으로 움직일 수 있어야 합니다.

    표준 :
    IEC 61032 "인클로저에 의한 사람 및 장비 보호 - 검증을 위한 프로브" 그림 2 

    IEC 61032의 테스트 프로브 B – 관절형 테스트 핑거

    IEC 61032의 테스트 프로브 B – 관절형 테스트 핑거

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