IEC 60884 그림 9 소켓 콘센트 보호 접근성 프로브 테스트 핀(20N 힘 포함)

IEC60884-1 그림 9 20N 힘의 소켓 콘센트 보호 테스트 게이지

기본 소개 :
1. 다음에 따르면 : IEC60884 Fig 9
2. 테스트 프로브는 감전 테스트 장치에 대한 보호가 필요한 가정용 및 유사한 전기 기기에 사용됩니다. 셔터를 통한 충전부 및 보호 기능이 강화된 콘센트의 충전부의 접근 불가 여부를 확인하기 위한 게이지입니다.

기술적 인 매개 변수 :
게이지: 3mm*1mm(넓은 * 두께);
직경: φ1.0mm
테스트 프로브 길이: 80mm
힘 : 20N
재질: 손잡이는 나일론으로 만들어졌으며 팁은 경화 강철로 만들어졌습니다.

게이지를 보정하기 위해 강철 강선에 축 방향으로 20N의 힘을 가합니다.
게이지 내부 스프링의 특성은 이 힘이 가해질 때 표면 A – A'가 표면 B – B'와 실질적으로 동일한 높이가 되도록 해야 합니다.

그림 9 – 셔터를 통해 충전부의 접근 불가능 여부를 확인하는 게이지

IEC 60884 그림 9 소켓 콘센트 보호 접근성 프로브 테스트 핀(20N 힘 포함)