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월 18, 2023 527보기 저자: 체리 셴

고온 및 저온 챔버에서 시편에 대한 저온의 영향

고온 및 저온 챔버  저온 상태에 있는 다른 테스트 재료는 다른 물리적 수축 현상을 가지므로 움직이는 부품이 유연하지 않게 회전하거나 상호 걸림이 발생하여 일부 강철, 플라스틱 및 기타 테스트 샘플이 부서지기 쉽고 부서지기 쉬운 손상을 입을 수 있습니다. 테스트 샘플이 고무 재질과 유사하면 낮은 온도는 샘플의 탄성을 감소시키고 경도를 증가시킵니다. 테스트 챔버 장비에서 고온은 또한 플라스틱 재료의 모양을 변경할 수 있습니다. 장비의 온도가 너무 낮으면 전해질이 응고되어 전해 커패시터, 배터리 등이 발생할 수 있습니다. 정상적으로 작동하지 않으면 낮은 장비 온도는 윤활유의 점도를 증가시키고 유량을 감소시키며 습윤 기능, 움직이는 부품 사이의 마찰을 증가시키고 장비의 시동 성능에 영향을 미칠 뿐만 아니라 전자 장비의 정상적인 시동에 영향을 미치는 얼음으로 결로되어 기기 오류를 유발합니다. 또한 테스트 상자 장비의 낮은 온도는 전자 제품의 절연 또는 밀봉 슬러리를 녹이고 윤활 그리스를 녹여 일련의 손상을 초래합니다. 고온 및 저온 테스트 챔버는 또한 폴리머 재료 및 절연 재료의 노화 및 열화를 악화시키고 관련 제품의 수명을 단축시킵니다.

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저온효과를 분석한 결과 고온 및 저온 챔버, 우리는 시험 챔버가 저온 상태에 있는 것을 피하고 시험 대상에 미치는 영향을 줄이고 장비의 시험 효과에 영향을 미치지 않도록 노력합니다. 장비의 고온도 시험에 일정한 영향을 미칩니다.

운영자는 고온 및 저온 챔버의 다음 문제에 항상 주의를 기울여야 합니다.
1. 운영 중 고온 및 저온 챔버, 장비의 잡화를 제거해야 합니다. 테스트 챔버 장비는 작동의 정확성을 보장하고 테스트의 정확성에 영향을 미치는 오작동을 방지하기 위해 올바른 프로세스에 따라 작동되어야 합니다. 장비 내부의 분배 상자에는 두 개의 과열 보호 장치가 있습니다. 일반적으로 무작위로 디버깅하지 마십시오. 제조업체는 테스트 값이 공장을 떠날 때 이미 설정 값을 디버깅했습니다. 과열 보호 장치는 난방 파이프와 가습 파이프가 타거나 물 부족 경보가 울리지 않도록 보호하는 데 사용됩니다. 또한 테스트가 끝나면 내열, 전기, 건조 장갑을 착용하고 제품을 꺼내야 합니다. 챔버에서 테스트 개체를 꺼낼 때와 문을 열고 닫을 때 고무 가장자리가 손상되고 수명이 단축되는 것을 방지하기 위해 문의 고무 가장자리가 개체에 닿지 ​​않도록 하십시오. 고온 및 저온 챔버 사용에 있어 이러한 사항을 무시하지 마시기 바랍니다.

2. 또한 청소 및 유지 관리에주의하십시오. 고온 및 저온 챔버. 테스트 챔버 장비를 정기적으로 유지 관리하고 청소해야 합니다. 바닥과 그 주변 고온 및 저온 챔버 많은 양의 먼지가 기계로 흡입되어 장비의 테스트 성능에 영향을 미치지 않도록 깨끗하게 유지해야 합니다. 챔버의 각 부분에 대한 세척은 제조자의 공식 절차에 따라 수행되어야 합니다. 장비는 최소 XNUMX년에 한 번 청소해야 합니다. 전기실 내부의 먼지는 진공 청소기로 제거할 수 있으며 테스트 상자 외부는 비눗물로 청소할 수 있습니다. 또한 정기적으로 부품을 검사해야 합니다. 결함이 발견되면 적시에 점검하고 수리해야 합니다.

온도 습도 챔버 | 열 챔버 | 기후 챔버는 IEC60068-2-1 (GB/T2423.1) and IEC60068-2-2 (GB/T2423.2), IEC60068-2-78, IEC60598-1, GB/T2423.17, GB/T5170.2, GB/T5170.5. 기후 챔버는 다음을 충족하는 CFL/LED를 테스트하는 데 사용됩니다. IES LM-80-08, 전기 제품, 자동차, 가정용 애플리케이션 및 모바일.

고온 및 저온 챔버에서 시편에 대한 저온의 영향

열 챔버

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