전도 방출 및 방사 방출 기반 EMI 전도 및 방사 간섭 테스트 시스템

개요

전기전자 제품의 집적도와 동작 주파수가 지속적으로 향상됨에 따라 장비 작동 중 발생하는 전자기 간섭이 점점 더 심각해지고 있습니다. 전자기 간섭은 크게 전도성 방출과 방사성 방출로 나뉩니다. 전도성 방출은 전력선이나 신호선과 같은 도체를 통해 간섭 신호를 전달하여 공공 전력망을 오염시키고 동일 회로에 연결된 정밀 장비에 간섭을 일으킬 수 있습니다. 방사성 방출은 전자기파 형태로 공간에 전파되어 방송, 통신, 계측기 등 주변 장비의 정상적인 작동에 영향을 미칩니다. 국내 표준인 GB 17743, GB 6113.101 및 국제 표준인 CISPR15에 따라, CISPR16-1FCC와 EN55015나열된 모든 전기, 조명 및 전자 제품은 다음 조건을 충족해야 합니다. 전도 방출 및 방사 방출 시험 전자기 간섭 제한이 관련 규격을 준수하는지 확인하기 위해서입니다.

기존의 개별 테스트 장비는 낮은 집적도, 복잡한 조작, 열악한 데이터 호환성 등의 단점을 가지고 있습니다. 완전 통합형 자동 EMI 전도 및 방사 간섭 테스트 시스템은 업계에서 주류로 자리 잡았습니다. 성숙한 자동 EMI 테스트 장비로서, LISUN EMI-9KB 본 장비는 전도 방출 및 방사 방출 시험을 위해 특별히 설계되었습니다. 수신, 결합, 차폐, 신호 획득 등의 모듈을 통합하고 있으며, 국내외 주요 EMC 표준과 호환됩니다. 조명 기기, 가전제품, 산업용 전기 장비 등 다양한 제품의 시험 분야에 널리 적용됩니다. 본 논문에서는 본 장비의 동작 원리, 구성상의 이점 및 전도 방출 및 방사 방출 시험에서의 적용 효과를 분석합니다.

EMI-9KBEMI 수신기 테스트

전도 방출 및 방사 방출의 기본 원리 및 시험 요구 사항

전도 방출(CE)
전도 방출이란 전기 및 전자 제품의 내부 회로에서 발생하는 고주파 간섭 신호가 전력선, 신호선, 접지선 등의 가용 도체를 통해 외부로 전파되는 전자기 현상을 말합니다. 이러한 간섭은 공통 모드 간섭과 차동 모드 간섭으로 나뉘며, 차동 모드 간섭은 주로 저주파 대역에서 발생합니다. 이러한 간섭은 전력망을 따라 확산되어 동일한 전원 공급 회로에 연결된 장비의 신호 왜곡 및 오작동을 유발합니다. 전도 방출 시험의 일반적인 주파수 범위는 9kHz~30MHz입니다. 핵심 시험 구성 요소는 선로 임피던스 안정화 네트워크(LISN)입니다. LISN은 전력망의 배경 잡음을 차단하고 표준 전력망 임피던스를 모사하여 시험 대상 장비(EUT)에서 발생하는 전도 간섭 신호를 정확하게 추출한 후, EMI 수신기로 신호를 전송하여 정량적으로 검출합니다.

복사 방출(RE)
방사 방출이란 장비 내부의 고속 회로 및 스위칭 소자에서 발생하는 에너지가 도체를 거치지 않고 전자기파 형태로 자유 공간으로 방출되는 현상을 말하며, 이는 중주파 및 고주파 대역에서 두드러지게 나타납니다. 30MHz 이하의 방사는 주로 자기장이며, 30MHz~300MHz 대역에서는 전기장 방사가 지배적입니다. 이는 무선 통신, 라디오 및 텔레비전 기기와 같은 무선 주파수 장비에 심각한 간섭을 일으킵니다. 방사 방출 시험에서는 차폐된 환경에서 공간 전자기파 신호를 수집하기 위해 결합/분리 네트워크 및 수신 안테나와 같은 부속 장치를 사용하여 방사 전자기장 강도가 표준 제한을 충족하는지 여부를 판단합니다. 조명 장비의 경우, 현재 표준은 다음과 같습니다. CISPR15:2018 채택을 명확히 규정하고 있습니다. CDNE-M316 30MHz~300MHz 대역에서 방사 방출 테스트를 위한 결합/분리 네트워크로, 기존 CDN 네트워크를 대체하고 검출 정확도를 향상시킵니다.

주요 시험 기준
현재 전도 방출 및 방사 방출 시험은 여러 국내 및 국제 표준을 따릅니다. 국내 주요 표준은 GB 17743 및 GB 6113.101이며, 이는 국제 표준 CISPR15에 해당합니다. CISPR16-1수출 제품은 FCC를 포함한 유럽 및 미국 표준을 준수해야 합니다. EN55015 EN55022각 표준은 전도성 방출 및 방사성 방출의 주파수 범위, 제한값 및 시험 방법에 대한 명확한 규정을 정의하며, 이는 EMI 시험 시스템의 연구 개발 및 교정의 핵심 기반이 됩니다.

전체적인 아키텍처 LISUN EMI-9KB EMI 전도 및 방사 간섭 테스트 시스템

LISUN EMI-9KB 본 장비는 전도 방출 및 방사 방출 시험 전용 완전 자동 통합 시험 시스템입니다. 전체 장치는 우수한 차폐 성능을 갖춘 고전도성 재질로 완전히 밀폐된 캐비닛을 채택하여 장비 자체의 전자기 간섭이 시험 결과에 미치는 영향을 하드웨어 수준에서 차단하고 전도 방출 및 방사 방출 데이터의 정확성을 보장합니다.

시스템 하드웨어 구성
전도 방출 및 방사 방출에 대한 서로 다른 시험 요구 사항을 충족하기 위해, EMI-9KB 이 시스템은 전용 하드웨어 모듈 세트를 완비하고 있습니다. 코어 호스트는 다음과 같습니다. EMI-9KB LISN과 매칭되는 EMI 수신기 CDNE-M316 결합/분리 네트워크, 절연 변압기, 감쇠기 및 전용 동축 케이블. 이 중 LISN은 전도성 방출 신호 획득에 사용됩니다. CDNE-M316 결합/분리 네트워크는 새로운 표준에 따라 30MHz~300MHz 대역의 전기 조명 장비 방사 방출 시험에 특화되어 적용됩니다. 절연 변압기와 감쇠기는 전압 안정화 및 신호 진폭 조정을 구현하며, 동축 케이블은 저손실 신호 전송을 보장합니다. 이 완벽한 구성은 장비 교체를 자주 하지 않고도 전도 방출과 방사 방출을 통합적으로 시험할 수 있도록 지원합니다.

이 시스템은 주변 보조 장치를 추가하여 확장할 수 있습니다. LSP-500VARC 프로그래밍 가능한 순수 정현파 전원 공급 장치는 EUT에 전원을 공급합니다. SDR-2000B EMI 차폐실은 표준 테스트 환경을 구축합니다. VVLA-30M 루프 안테나는 9kHz~30MHz 범위의 저주파 방사 방출 테스트를 완료했습니다. AB-CLP 흡수 클램프 및 VOL-CP RF 전류 프로브는 전동 공구 및 인터페이스 교란 전압에 대한 특수 전도 방출 테스트를 포함하여 테스트 범위를 확장합니다. 이 시스템은 뛰어난 호환성을 자랑합니다.

소프트웨어 및 운영 환경
본 시스템은 중국어 및 영어 이중 언어 운영 소프트웨어를 탑재하고 있으며, Windows 7, 8, 10, 11 운영 체제와 호환되어 국내 실험실 및 기업 시험 작업장의 일반적인 컴퓨터 환경에 적합합니다. 소프트웨어는 자동 주파수 스캔, 데이터 수집 및 결과 분석을 지원하며, 다양한 인증 기관에서 직접 인정받을 수 있는 국제 표준 형식의 시험 보고서를 출력합니다. 이를 통해 전도 방출 및 방사 방출 시험의 효율성을 크게 향상시키고 보고서의 표준화를 개선합니다.

핵심 기술 매개변수 및 성능 분석 EMI-9KB 시스템

기술적인 매개변수 EMI-9KB 전도 방출 및 방사 방출의 검출 범위, 정확도 및 안정성을 직접적으로 결정합니다. 아래 표는 시스템의 핵심 매개변수를 요약하고 테스트 요구 사항과 결합된 매개변수 적응성을 분석합니다.

위 표에서 볼 수 있듯이 주파수 범위, 해상도, 검출기 모드 및 기타 핵심 매개변수 EMI-9KB GB 17743 및 CISPR15의 요구 사항을 완벽하게 충족합니다. EN55015 또한 전도 방출 및 방사 방출에 대한 기타 표준도 충족합니다. 테스트 오차가 ±2dB로 상용 테스트 장비의 정밀도 표준을 충족하므로 이 시스템은 연구 개발 자체 테스트, 공장 품질 관리 및 제3자 공인 인증에 사용할 수 있습니다. EMI-9KA (9kHz~30MHz) EMI-9KB 방사 방출 주파수 대역을 30MHz~300MHz까지 확장합니다. 고주파 모델과 비교했을 때 EMI-9KC (9kHz~1GHz) 대역을 사용하는 이 시스템은 높은 비용 대비 성능을 제공하는 주류 중저주파 시나리오에 초점을 맞추고 있으며, 조명 및 가전제품 제조업체에서 선호하는 모델입니다.

전도 방출 및 방사 방출 시험에서 시스템의 적용 과정 및 시나리오

표준 테스트 프로세스
• 테스트 환경 설정: 위치 지정 EMI-9KB 내부 시스템 SDR-2000B 차폐실, LISN 연결, CDNE-M316 네트워크 및 절연 변압기를 연결한 다음 EUT를 테스트 회로에 연결하여 외부 전자기 간섭을 제거합니다.
• 파라미터 설정: 시스템 소프트웨어에서 해당 테스트 표준(GB 17743 / CISPR15)을 선택하고 스캔 주파수 대역, 검출기 모드, 해상도 대역폭 등의 파라미터를 설정합니다.
• 전도 방출 테스트: 시스템을 시작합니다. LISN은 전력선 전도 방출 간섭 신호를 수집합니다. 수신기는 9kHz~30MHz 대역을 자동으로 스캔하고 각 주파수 지점에서 간섭 레벨을 기록합니다.
• 방사 방출 테스트: 스위치로 전환 CDNE-M316 30MHz~300MHz 범위 내에서 방사 방출 신호 획득을 완료하고 방사 전계 강도 데이터를 기록하는 결합/분리 네트워크.
• 데이터 비교 및 ​​보고서 생성: 소프트웨어는 측정된 전도 방출 및 방사 방출 데이터를 표준 한계와 자동으로 비교하여 제품의 규정 준수 여부를 판단하고 표준화된 테스트 보고서를 생성합니다.

일반적인 애플리케이션 시나리오
• 전기 조명 장비 테스트: 이 시스템의 핵심 적용 분야로서, 모든 규정을 완벽하게 준수합니다. CISPR15:2018. CDNE-M316 이 네트워크는 조명 제품의 방사 방출 시험에 사용되며, LISN은 램프 전원 포트의 전도 방출 시험에 사용됩니다. 이는 조명 제품의 시장 진출 인증에 필수적인 장비입니다.
• 가전제품 및 소형 전동공구: 흡수 클램프 및 전류 프로브와 함께 사용하여 공구의 신호선 및 전원선에서 발생하는 전도성 전자파 방출을 측정합니다. 공간 방사 방출 데이터와 결합하여 전체 기기에 대한 EMC 적합성 테스트를 완료합니다.
• 제품 연구 개발 및 간섭 해결: 연구 개발 담당자는 시스템의 높은 해상도를 활용하여 전도 방출 및 방사 방출이 허용치를 초과하는 특정 주파수 지점과 간섭원을 찾아내고, 필터링, 차폐 및 배선에 대한 최적화를 통해 제품 해결 주기를 단축할 수 있습니다.
• 대량 생산 품질 관리: 이 시스템은 조작이 간편하고 검사 속도가 빨라 생산 라인에서 샘플 검사를 통해 제품의 전도 방출 및 방사 방출 지표를 일괄적으로 관리하고 불량 제품의 시장 유입을 방지하는 데 적합합니다.

맺음말

전도 방출 및 복사 방출 전자제품의 EMC 검사에서 핵심적인 테스트 항목이며, 제품의 시장 진출 및 전자기 환경 안전과 직접적인 관련이 있습니다. 완벽한 하드웨어 구성, 정확한 기술 매개변수 및 모든 표준과의 호환성을 갖추고 있습니다. LISUN EMI-9KB EMI 전도 및 방사 간섭 테스트 시스템은 자동 작동, 확장 가능한 기능 및 높은 안정성이라는 장점을 바탕으로 전 대역의 전도 방출 및 방사 방출을 효율적이고 정확하게 정량적으로 검출할 수 있습니다.

9kHz~300MHz의 주요 테스트 주파수 대역을 포괄하는 이 시스템은 GB, CISPR, EN, FCC를 포함한 국내외 주요 EMI 표준을 준수하며, 조명, 가전제품, 소형 산업 장비 등 다양한 분야에 적용 가능합니다. 제3자 시험기관의 공신력 있는 인증은 물론, 제조업체의 제품 연구 개발 수정 및 양산 품질 관리에도 적합합니다. EMI-9KB 이 시스템은 전도 방출 및 방사 방출 테스트에 대한 신뢰할 수 있는 기술 지원을 제공합니다. EMC 관리가 점점 더 엄격해지는 상황에서 이러한 통합 EMI 테스트 시스템은 전기 및 전자 산업에서 제품의 전자파 안전을 보장하고 시장 경쟁력을 강화하는 데 중요한 인프라가 될 것입니다.