LED 노화가 너무 느립니까? 이 시도!

LED는 수명이 길다는 특징이 있지만 작동 조건과 구동 전류가 다르기 때문에 수명도 다르지만 일반적으로 수명은 약 50시간입니다. 기존 광원과 달리 LED 조명은 즉시 꺼지지 않고 점차적으로 소멸됩니다. 표준 IES에 따르면-LM-80, IES-LM-82 및 TM-21, 테스트주기 요구 사항은 일반적으로 6000hr이며 L70, L50 등의 개념을 도입했습니다. 즉, L70(시간): 70% 루멘 유지 시간; L50(시간): 50% 루멘 유지 시간.

그러나 오늘날 LED 시장의 치열한 가격 경쟁으로 인해 시간이 많이 걸리는 테스트 프로세스에 대한 LED 응용 플랜트의 요구 사항을 충족시킬 수 없습니다. 이제 가장 짧은 시간에 LED 성능을 판단하는 방법을 살펴 보겠습니다. LED 입자를 선택하는 저비용의 빠르고 효과적인 방법을 모색합니다. LED의 주요 원료는 포장 접착제, 금 실, 칩, 고체 결정 플라스틱 및 홀더입니다. 각 재료는 LED 성능에 직접적인 영향을 미칩니다. 일반적으로 다음 세 단계를 사용하여 테스트합니다.

1) 다른 매개변수, 칩 크기 등의 데이터를 포함하여 LED 입자의 초기 광도 및 전기 매개변수를 테스트합니다. 이 부품 테스트의 경우 다음을 권장합니다. Lisun LPCE-2(LMS-9000) 단일 LED 및 LED 램프의 성능을 식별하기 위한 구형 분광복사계 LED 테스트 시스템을 통합합니다. CIE127-1997에 따르면, IES LM-79-08 및 IES LM-80-08, 배열 분광복사계를 사용하는 것이 좋습니다. 적분 구 SSL 제품을 테스트합니다. 그만큼 LPCE-2(LMS-9000A)은 Flux VS 시간, CCT VS 시간, CRI VS 시간, Power VS 시간 등과 같은 LED 광학 유지 관리 테스트도 수행할 수 있습니다. LM-80. CCT, CRI, 스펙트럼, 루멘, 루멘 효율, 전력, 역률, 전류 및 전압 등에 대한 LED 램프를 테스트할 수 있습니다. LM-79.

2) 실온 및 정격 전류의 1.5 배에서 빠르게 노화됩니다. 5pcs 샘플 채취 (조건이 허용되는 경우 더 많은 PC를 섭취 할 수 있음), 실온 (25 ℃) 및 1.5 배 정격 전류 (225mA)에서 빠르게 노화, 0 시간, 48 시간, 96 시간, 168 시간에서 XNUMX 단계 (광도계 및 전기 매개 변수에 대한 테스트) 플럭스의 변화량에 따라 각 노드의 감쇠율을 계산하고 LED 입자의 수명 곡선을 시뮬레이션합니다.

3) 85 ℃ 및 공칭 전류에서 빠르게 노화됩니다. 5pcs 샘플 채취 (조건이 허용되는 경우 더 많은 PC를 취할 수 있음), 85 ℃ 및 공칭 전류 (15mA)에서 빠르게 노화, 0 시간, 48 시간, 96 시간, 168 시간에서의 XNUMX 단계 테스트 (광도계 및 전기 매개 변수에 대한 테스트) 및 각각의 감쇠율 계산 플럭스의 변화량에 따라 노드를 연결하고 LED 입자의 수명 곡선을 시뮬레이션합니다.

위의 논의를 통해 LED 응용 플랜트에 적합한 빠른 선택 LED 방법을 결론 지을 수 있습니다. 포장 공장에서 많은 LED 샘플을 얻은 후 LED 칩 크기를 측정하기 위해 먼저 LED를 분해 할 수 있습니다. 일반적으로 칩의 크기가 클수록 ESD 방지 기능이 커지고 대전류 방지 기능이 향상됩니다. 둘째, 실온 및 1.5 배 (또는 85 배), 0 ℃ 및 공칭 전류에서 빠르게 노화됩니다. 그리고, 48 시간, 96 시간, 168 시간, XNUMX 시간에서 각 노드의 자속 감쇠율에 따라 추정 수명을 도출합니다. 다른 제조업체의 LED 광속 유지율 기능을 비교하여 장단점을 판단합니다. 마지막으로 다른 제조업체의 LED 단가를 평가하여 가장 짧은 시간에 가장 비용 효율적인 LED 입자를 선택할 수 있습니다.

태그 :GDJS-015B , LEDLM-80PL , LPCE-2(LMS-9000) , LPCE-3 , SY2036