접촉 정전기와 비접촉 정전기의 차이점

산업상의 위험: 산업 생산에서 정전기의 발생은 불가피하며 이로 인한 위험은 다음 두 가지 메커니즘에 기인할 수 있습니다.
1. 정전기 방전(ESD)으로 인한 위험: 전자 장비의 오작동 또는 오작동을 유발하고 전자파 간섭을 일으킵니다.
2. 집적 회로 및 정밀 전자 부품의 고장 또는 부품 노화를 촉진하여 생산 수율을 감소시킵니다.
3. 고전압 정전기 방전은 감전을 유발하고 인명을 위험에 빠뜨릴 수 있습니다.
4. 가연성, 폭발성 물질이 많거나 분진, 오일 미스트가 많은 생산현장에서는 폭발 및 화재의 원인이 되기 쉽습니다.
5. 정전기 인력(ESA)으로 인한 위험: 전자 산업: 먼지를 끌어들이고 집적 회로 및 반도체 부품을 오염시키고 수율을 크게 감소시킵니다.
6. LED 램프 비드의 정전기 손상은 순간적인 전기장 또는 전류에 의해 발생하는 열로 인해 LED 램프 비드가 부분적으로 손상되고 누설 전류가 급격히 증가하여 손상됩니다.
7. LED 램프 비드의 절연층이 전기장이나 전류에 의해 손상되어 LED 램프 비드가 손상되고 작동하지 않으며 주로 데드 램프로 나타납니다.

정전기 시험 방법:
일반적으로 정전기 테스트는 두 가지 방법으로 나뉘는데 하나는 접촉식 정전기 테스트이고 다른 하나는 비접촉식 정전기 테스트입니다. 일반적으로 전자 부품의 접촉식 정전기 방지 전압 값은 비접촉식 정전기 방지 전압 값보다 낮습니다. 산업용 정전기 방지 표준: 접촉 정전기 방지 전압 6kV, 비접촉 정전기 방지 전압 8kV. LISUN 디자인 ESD 시뮬레이터 건 (정전기 방전 발생기/정전기 건/ESD 건) IEC 61000-4-2, EN61000-4-2, ISO10605, GB/T17626.2, GB/T17215.301 과 GB/T17215.322.

정전기 시험 전 준비:
• 테스트할 장비를 연결하고 테스트하기 전에 장비가 제대로 작동하는지 확인하십시오.
• ESD 테스터를 연결하고 테스터의 접지선과 장치의 접지선이 서로 연결되어 방전 루프를 형성하는지 확인하십시오.

접촉 정적 테스트:
테스트 항목에는 장비 섀시 쉘, 전원 인터페이스, 제어 인터페이스 및 통신 인터페이스가 포함됩니다.

시험 전압 기준인 시험 정전 전압은 2kV에서 2kV까지 매번 20kV씩 증가한다. 테스트 정전기 전압은 2kV, 4kV, 6kV, 8kV, 10kV, 12kV, 14kV, 16kV, 18kV, 20kV입니다. 시험 주파수 기준, 시험 방전은 10개의 주파수로 나뉘는데, 방전 횟수는 1회입니다. 하나의 주파수는 저주파 정전기 방전 테스트인 초당 10회 방전 및 1회 연속 방전입니다. 다른 주파수는 0.1초에 10회 방전, 고주파 정전기 방전 테스트인 XNUMX회 연속 방전입니다. 테스트가 표준을 통과하고 하드웨어가 손상되지 않았으며 통신이 정상이며 데이터에 오류 및 손실이 없습니다.

시험 정지 기준. 특정 항목을 테스트할 때 하드웨어가 손상되었거나 통신이 비정상적이거나 기타 비정상적 상황이면 더 높은 표준으로 테스트를 수행하지 않고 현재 테스트 결과만 계산합니다. 테스트는 다음 항목으로 이동합니다. 테스트 정확도를 향상시키기 위해 테스트 장비가 비정상적일 때 테스트를 위해 정전기 전압을 1kV 낮출 수도 있습니다. 테스트를 통과하면 테스트를 위해 정전기 전압을 0.5kV 증가시킵니다. 테스트가 실패하면 테스트 등을 위해 정전기 전압을 0.5kV로 ​​계속 낮추십시오. 정확도가 요구 사항을 충족하고 임계 정전기 전압 테스트 결과가 계산될 때까지 조정 범위를 0.25kV, 0.125kV 등으로 계속 줄입니다.

테스트 시퀀스는 표준이며 테스트 시퀀스는 먼저 전압을 결정한 다음 주파수를 결정하는 것입니다. 전압은 낮음에서 높음으로, 주파수는 느린 것에서 빠른 것입니다. 즉, 2kV 저주파 시험, 2kV 고주파 시험, 4kV 저주파 시험, 4kV 고주파 시험, 20kV 저주파 시험, 20kV 고주파 시험까지. 정확도 테스트를 개선하는 과정에서 먼저 전압을 결정한 다음 주파수를 결정하는 원칙에 따라 데이터 표준을 테스트합니다. 특정 항목을 테스트할 때 특정 전압 및 주파수에서 테스트를 20회 연속 통과하면 현재 상태로 판별되고 시스템이 정상적으로 작동합니다. 그렇지 않으면 20회 연속 테스트 중 오류 수를 계산하고 오류 확률을 계산하고 테스트 데이터 보고서를 작성합니다. 테스트 방법 표준, 먼저 정전기 총을 테스트 항목(예: 섀시, 각 인터페이스)과 정렬하고 정전기 총을 테스트 항목의 표면으로 이동하고 정전기 총이 수직을 유지하고 표면과 접촉하도록 요구합니다. 10번의 방전이 모두 끝난 후 정전기 총의 방아쇠를 당기고 테스트 항목의 표면에서 정전기 총을 제거하고 다음 테스트를 준비합니다.

비접촉 정전기 테스트:
테스트 항목에는 장비 섀시 쉘, 전원 인터페이스, 제어 인터페이스 및 통신 인터페이스가 포함됩니다.
시험 전압 기준, 시험 정전기 전압은 2kV에서 시작하여 2kV까지 매번 20kV씩 증가합니다. . 테스트 통과 표준, 하드웨어 손상 없음, 정상 통신, 데이터 오류, 손실 없음 등. LISUN.

시험 정지 기준. 특정 항목을 테스트할 때 하드웨어가 손상되었거나 통신이 비정상적이거나 기타 비정상적 상황이면 더 높은 표준으로 테스트를 수행하지 않고 현재 테스트 결과만 계산합니다. 테스트는 다음 항목으로 이동합니다. 테스트 정확도를 향상시키기 위해 테스트 장비가 비정상적일 때 테스트를 위해 정전기 전압을 1kV 낮출 수도 있습니다. 테스트를 통과하면 테스트를 위해 정전기 전압을 0.5kV 증가시킵니다. 테스트가 실패하면 테스트를 위해 정전기 전압을 0.5kV씩 계속 낮추고 정확도가 요구 사항을 충족할 때까지 조정 범위를 0.25kV, 0.125kV 등으로 계속 줄입니다.

표준 테스트 시퀀스, 테스트 시퀀스는 낮은 전압에서 높은 전압까지입니다. 즉, 2kV 테스트, 4kV 테스트, 6kV 테스트, 20kV 테스트까지.
테스트 데이터 표준은 특정 항목을 테스트할 때 특정 전압에서 테스트를 20회 연속 통과하면 시스템이 현재 상태에서 정상적으로 작동하는 것으로 판단합니다. 그렇지 않으면 20회 연속 테스트 중 오류 수가 계산됩니다. 오류 확률을 계산하고 테스트 데이터 보고서를 작성합니다.

표준 테스트 방법은 먼저 정전 건을 테스트할 항목(예: 섀시, 각 인터페이스)과 5cm 이상의 거리로 정렬하고 정전 건의 방아쇠를 당기고 정전 건을 가까이로 이동하는 것입니다. 테스트 항목의 표면. 테스트 항목의 표면은 수직으로 유지됩니다. 공기방전이 끝난 후 검사대상물의 표면에서 정전건을 제거하고 정전건의 방아쇠를 떼고 다음 시험을 준비한다.

주의 사항: 테스트 과정에서 특정 부품의 테스트 결과는 보험, 다이오드 등 부품의 개별 차이로 인해 달라질 수 있으며, 모든 부품의 테스트 결과를 얻으려면 여러 부품을 여러 번 측정해야 합니다. 평균값은 최종 테스트 결과로 사용됩니다.

테스트 중에 정상적인 상황에서 칩에 직접 정전기 방전을 수행하는 것은 불가능합니다. 특별한 필요가있는 경우 특정 칩에 대한 정전기 방전 테스트를 수행 할 때 각 정전기 증가의 진폭을 가능한 한 줄여야 정전기 방지 전압의 실제 값에 가까운 값을 더 잘 테스트 할 수 있습니다. 테스트를 더 정확하게 만듭니다.

테스트 중 테스트 결과의 정확성을 보장하기 위해 각 정전기 방전 종료와 다음 정전기 방전 시작 사이의 시간 간격이 너무 작아서는 안 되며 시스템에 충분한 복구 시간이 남아 있어야 합니다. 즉, 시스템이 충전을 해제하기에 충분한 시간, 시간 간격은 일반적으로 10초입니다. 다음 테스트는 시스템 충전이 완전히 해제된 후에만 수행할 수 있습니다.

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