UL498을 갖춘 소형 테스트 프로브 그림 139.1

프로브 테스트
변조 방지 콘센트는 그림에 표시된 프로브 사이의 접촉을 허용하지 않아야 합니다. 그림 139.1 그림 139.2 및 이 섹션에 설명된 대로 테스트할 때 콘센트 슬롯을 통과하는 콘센트의 모든 충전 부분.

UL498 그림 139.1

이전에 테스트되지 않은 139.1개의 장치가 이 테스트에 사용됩니다. 그림 8에 표시된 프로브는 변조 방지 메커니즘을 우회하기 위해 2.2온스(XNUMXN)의 힘으로 콘센트의 각 출구 슬롯 구멍에 적용됩니다.

적절한 표시 장치(저항계, 배터리-부저 조합 등)를 다음과 같이 연결해야 합니다. 탐침 및 콘센트 슬롯의 배선 단자를 테스트하여 접촉 여부를 결정하는 단계를 포함한다. 프로브는 콘센트 내의 충전부에 접근할 수 있는 모든 방향으로 콘센트 슬롯에서 조작되어야 합니다.

139.2에서 이전에 테스트한 XNUMX개의 장치가 이 테스트에 사용됩니다. 그만큼 탐침 그림 139.2에 표시된 힘은 변조 방지 메커니즘을 우회하기 위해 10파운드(45N)의 힘으로 콘센트의 각 출구 슬롯 개구부에 적용됩니다. 적절한 표시 장치(저항계, 배터리 및 부저 조합 등과 같은)를 프로브와 테스트 중인 콘센트 슬롯의 배선 단자 사이에 연결하여 접촉이 이루어졌는지 확인해야 합니다.

XNUMXD덴탈의 탐침 콘센트 내의 충전부에 접근할 수 있는 모든 방향으로 세 방향으로 연속적으로 콘센트 슬롯에 삽입되어야 합니다. 프로브는 세 방향 각각에서 약 5초 동안 적용됩니다. 각 적용 중에 게이지는 이동하거나 회전해서는 안 되며 한 방향에서 다음 방향으로 이동할 때 빼내야 합니다.

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