EMI 수신기에 대한 EMI 수신기 테스트의 효과

과학기술의 발달로 사회 전 분야에서 디지털, 고속 전기전자장비가 점점 더 널리 사용되고 있습니다. 전기 및 전자 장비의 적용으로 인해 발생하는 전자파 간섭은 사회 발전을 촉진하는 동시에 사회에 전자파 오염을 가져옵니다. 전자파 오염은 수질오염, 대기오염과 함께 현대 사회의 16대 오염원으로 알려져 있습니다. 전자파 간섭 문제가 점점 더 부각되면서 CISPR(국제 무선 간섭 특별 위원회)에서는 CISPR -15, CISPR-XNUMX를, 유럽 표준화 위원회에서는 EN55015 와 EN55022. 이러한 조치 및 표준은 전자파 간섭으로 인한 사회적 문제를 줄이기 위해 포인트 전자 제품 및 기타 사양의 전자파 간섭 제한을 규제하기 위해 고안되었습니다.

LISUN EMI 수신기 EMI(전자기 간섭) 방사선 전도 또는 전도성 방출 테스트를 위한 시스템입니다. 그만큼 EMI-9KB EMI 수신기 풀 클로저 구조와 강한 전기전도성 재질로 차폐 효과가 높습니다. 에 대한 새로운 기술로 인해 EMI 테스트 시스템, 계측기 자체 EMI 문제를 해결했습니다. 테스트 결과는 국제 형식 테스트 보고서에 따릅니다. EMI 테스트 시스템 EMI-9KB 완전히 만나다 CISPR15:2018, CISPR16-1, GB17743, FCC, EN55015 와 EN55022.

EMI-9KB EMI 수신기

전자기 간섭(EMI)은 전도성 간섭과 방사 간섭의 두 가지 유형으로 나뉩니다. 전도성 간섭은 전기 네트워크의 신호가 전도성 매체를 통해 다른 전기 네트워크에 결합(간섭)하는 것을 말합니다. 방사 간섭은 공간을 통해 신호를 다른 전기 네트워크에 연결(간섭)하는 간섭 소스를 나타냅니다. 고속 PCB 및 시스템 설계에서 고주파 신호 라인, 집적 회로의 핀, 모든 종류의 커넥터 등은 전자파를 방출하고 다른 정상적인 작동에 영향을 줄 수 있는 안테나 특성을 가진 방사 간섭 소스가 될 수 있습니다. 시스템 또는 시스템 내의 다른 하위 시스템. 우리 모두가 알다시피 EMC의 테스트 대상은 전자 제품이며, 그 중 중요한 부분인 조명 장비는 당연히 그에 상응하는 제약 조건을 가지고 있습니다. 미국의 FCC 인증, 유럽 연합 및 기타 국가의 CE 인증과 같이 LED 조명 장비에 대한 관련 테스트 항목을 제시했습니다. 전자기 간섭에 대해 이야기할 때 일반적으로 두 가지 간섭 소스가 있습니다. 하나는 전도성 간섭입니다. 주로 전자 장비에서 발생하는 간섭 신호는 전도성 매체 또는 공공 전력선을 통해 서로 간섭합니다. LED 램프의 전도성 간섭 스캔 테스트 주파수에 대한 FCC 인증은 0.15MHz에서 시작하여 30MHz에서 끝납니다. CE 인증의 전도성 간섭 스캔 테스트 주파수는 9KHz에서 시작하여 30MHz에서 끝납니다. 다른 종류의 간섭은 방사 간섭입니다. 주로 전자 장비에서 발생하는 간섭 신호를 말하며 간섭 신호를 공간을 통해 다른 전기 네트워크 또는 전자 장비에 결합(간섭)합니다. LED 램프의 FCC 인증의 방사 간섭 스캔 테스트 주파수는 30MHz에서 시작하여 1GHz에서 끝나고 CE 인증의 방사 간섭 스캔 테스트 주파수는 30KHz에서 시작하여 300MHz에서 끝납니다.

조명 산업에는 9KHz-30MHz 파장에서 EMI 테스트를 위한 두 가지 방법이 있습니다. 하나는 CISPR15 표준을 기반으로 하는 안테나와 EMI 수신기를 사용하는 것입니다. EN55015, GB17743. 조명기구에 의해 생성될 수 있는 저주파 자기장 장비의 경우 XNUMX루프 안테나를 사용하여 다음과 같은 저주파 자기장 방사 간섭을 측정해야 합니다. CISPR16-1-4. 주로 XNUMX루프 안테나와 EMI 수신기를 사용하여 테스트하며, 차폐실에서 테스트를 수행해야 합니다. 참고: XNUMX루프 안테나는 X, Y, Z 방향의 저주파 자기장 성분을 RF 신호로 변환하여 안테나로 전송합니다. EMI 수신기 측정을 위해 XNUMX개 채널의 동축 스위치를 통해; 다른 하나는 LISN 테스트 방법으로 EMI 수신기 + 인공 전원 네트워크 + LISN 및 테스트 소프트웨어로 측정해야 합니다. 전도성 간섭 테스트 시스템은 정상적인 작동 조건에서 램프 및 조명 장비의 전원 포트에서 생성된 간섭을 측정하는 데 사용됩니다. LISN은 RF 신호의 절연, 샘플링, 임피던스 정합을 달성하고 EUT에 전기 채널을 제공합니다. 그만큼 EMI 수신기 RF 신호를 측정하고 최종적으로 EMI 테스트 소프트웨어로 분석, 처리 및 판단합니다. 차폐된 방에서 테스트를 수행해야 합니다.

동시에 9KHz~300MHz의 파장대역에서의 EMI 테스트에는 CDN 방식이 채택되었습니다. 조명기기에 대한 또 다른 방사 전기장 교란 시험 방법도 CISPR15의 표준에 규정되어 있으며, EN55015 와 GB17743즉, CDN 공통 모드 단자 전압 방식입니다. CDN 방식에는 주로 다음이 포함됩니다. EMI 수신기, CDN 및 감쇠기. 시험은 차폐실에서 실시할 수 있습니다. EMI 테스트를 위해 CISPR(국제 무선 간섭 특별 위원회)는 무선 방해 및 내성 측정 장치에 대한 CISPR-16 사양을 발행했으며, 조명 산업의 경우 CISPR은 전자 조명 및 관련 장치의 무선 방해 특성에 대한 CISPR-15 사양을 제안했습니다. 장비 및 측정 방법. 각 국가는 또한 자국의 조건에 따라 다음과 같은 모든 종류의 EMI 조명 테스트 사양을 공표했습니다. EN55015-2007년 EU에서 발행 GB17743-1999년 중국 발행. EU 회원국의 경우, EN55015 표준(CISPR-15 참조)은 백열등, 형광등, 자가 정류형 에너지 절약 램프 등과 같이 주파수가 100Hz를 초과하는 전통적인 조명 장비에 적용됩니다. 일반적으로 이러한 장비의 주파수는 30MHz를 초과하지 않습니다. 방사 간섭 제한 표 1에 해당합니다. 그러나 신흥 LED 조명 산업의 경우 주파수는 일반적으로 30MHz 이상이며 CE 인증에서는 스캐닝 주파수가 30MHz ~ 300MHz로 명확하게 제안되어 있습니다.

Lisun Instruments Limited를(를) 찾았습니다. LISUN GROUP 2003 인치 LISUN 품질 시스템은 ISO9001:2015에 의해 엄격히 인증되었습니다. CIE 회원으로서, LISUN 제품은 CIE, IEC 및 기타 국제 또는 국가 표준을 기반으로 설계되었습니다. 모든 제품은 CE 인증서를 통과했으며 타사 실험실에서 인증했습니다.

우리의 주요 제품은 고니 오 포토 미터, 통합 영역, 분광 방 사계, 서지 발생기, ESD 시뮬레이터 건, EMI 수신기, EMC 시험 장비, 전기 안전 시험기, 환경 챔버, 온도 챔버, 기후 챔버, 열 챔버, 염수 분무 시험, 먼지 테스트 챔버, 방수 시험, RoHS 테스트(EDXRF), 글로우 와이어 테스트 와 바늘 화염 테스트.

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