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UL 2200의 관절형 비절연 프로브 그림 8.1
12월 04, 2023 229 저자 : Rachel He

UL 2200의 관절형 비절연 프로브 그림 8.1

사용자 보호 - 비절연 충전부 및 이동 부품의 접근성 - 그리고 사용자 서비스 8.2~8.17의 요구사항은 사용자가 접근할 수 있고 고압 회로로부터 절연된 저전압 부품에만 적용됩니다. 고압 회로로부터 절연되지 않은 고압 부품 및 저압 부품에 대한 요구사항은 8.18을 참조하십시오. 서비스 직원의 보호를 위해...

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전기 절연 재료에 대한 글로우 와이어 테스트: 알아야 할 사항
12월 03, 2023 223 저자: 라자 라바니

전기 절연 재료에 대한 글로우 와이어 테스트: 알아야 할 사항

소개 글로우 와이어 테스트는 전기 절연체의 가연성을 결정하기 위한 표준 절차입니다. 이는 전기 및 전자 장치의 보안과 신뢰성에 매우 중요합니다. 이 기사의 초점은 전기 절연 재료와 관련된 글로우 와이어 테스트에 있으며, 그 목적은 이 기술에 대한 철저한 지식을 제공하는 것입니다. 우리는 무엇을 할 것인가 ...

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가전제품용 EMI 테스트 수신기: 가전제품의 간섭 최소화
12월 03, 2023 239 저자: 라자 라바니

가전제품용 EMI 테스트 수신기: 가전제품의 간섭 최소화

소개 가전제품은 우리 집에 가져다주는 편리함, 효율성, 아늑함 때문에 꼭 필요한 구성 요소로 진화했습니다. 반면, 집안 내 전자 기기의 확산은 다양한 전자 부품 간에 발생할 수 있는 전자파 간섭(EMI)의 위험을 증가시킵니다. 전자기 간섭(EMI)으로 인해 성능이 저하되었습니다.

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IEC 60335-1 그림 7에 대한 손톱 테스트
12월 03, 2023 207 저자 : Rachel He

IEC 60335-1 그림 7에 대한 손톱 테스트

가정용 및 유사 전기 제품 – 손톱 안전 테스트 1 범위 IEC 60335-1 이 국제 표준은 가정용 및 유사한 목적의 전기 기기의 안전을 다루고 있으며 정격 전압은 단상 기기의 경우 250V 이하, 기타 기기의 경우 480V 이하입니다. 일반적인 가정용으로 사용되지 않지만 그럼에도 불구하고 소스가 될 수 있는 기기...

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오존 노화 테스트 챔버의 오존 농도를 제어하는 ​​방법
12월 02, 2023 237 저자: 체리 셴

오존 노화 테스트 챔버의 오존 농도를 제어하는 ​​방법

오존 노화 시험 챔버는 주로 고무 산업에 사용됩니다. 테스트 방법과 규격에 따라 '정적'과 '동적'으로 나눌 수 있습니다. 정적(Static)은 일반적으로 시험편을 늘린 후 시험용 챔버에 넣는 것을 말하며, 동적(Dynamic)은 샘플을 시험실의 고정 장치에 놓고 늘리면서 시험하는 것을 의미합니다. 외부 보...

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Goniophotometer를 사용한 품질 관리 및 규정 준수 테스트
12월 02, 2023 199 저자: 라자 라바니

Goniophotometer를 사용한 품질 관리 및 규정 준수 테스트

소개 품질 관리 및 규정 준수 테스트는 조명 제조 및 검증에 있어 매우 중요한 측면입니다. 이러한 품목의 품질이 만족스러운지 확인하기 위해 고니오포토미터가 자주 사용됩니다. 객관적인 방법으로 빛의 확산을 측정하는 고니오포토미터를 사용하면 제조업체는 효율성, 신뢰성 및 성능을 평가할 수 있습니다.

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IEC 61032 표준 관절형 테스트 프로브(10N 추력 포함)
12월 02, 2023 226 저자 : Rachel He

IEC 61032 표준 관절형 테스트 프로브(10N 추력 포함)

BS-EN-61032, 이 국제 표준은 다음과 관련하여 인클로저가 제공하는 보호를 검증하기 위한 테스트 프로브의 세부 사항 및 치수를 지정합니다. - 인클로저 내부의 위험한 부품에 대한 접근으로부터 사람을 보호합니다. - 고체 이물질의 침입으로부터 인클로저 내부 장비를 보호합니다. 이 국제 표준의 목적은 다음과 같습니다. – ...

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IEC 60598 등기구의 침투 보호
12월 01, 2023 245 저자: 엘렌 리우

IEC 60598 등기구의 침투 보호

IEC 60598 테스트 표준은 등기구에 대한 특정 요구 사항을 제공합니다. 등기구는 최대 1,000V의 공급 전압에서 작동하기 위한 전기 광원으로 정의됩니다. IEC 60598-1은 등기구에 대한 다양한 테스트에 대해 설명합니다. 이 문서는 표준의 침투 보호 섹션만 다룹니다. who 표준에 대한 자세한 내용은 IEC 60598-1 테스트 페이지를 참조하세요. 조명기구는...

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반도체 산업의 EMI 테스트: 칩 설계의 전자기 간섭 평가
12월 01, 2023 257 저자: 라자 라바니

반도체 산업의 EMI 테스트: 칩 설계의 전자기 간섭 평가

소개 반도체 칩은 모든 전자 장치 및 인프라의 중추이기 때문에 반도체 부문은 오늘날의 놀라운 기술을 작동하는 데 매우 중요합니다. 반도체 장치가 소형화되고 복잡해짐에 따라 전자기 간섭(EMI) 문제가 더욱 시급해지고 있습니다. 전자기 간섭(EMI)은 전자 제품에 유해하며 다음과 같은 위험을 초래할 수 있습니다.

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