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대량 전류 주입(BCI) 테스트 시스템

제품 번호 : LSBCI-40

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  • LSBCI-40 벌크 전류 주입 테스트 시스템(BCI)이 표준을 완전히 충족합니다. ISO 11452-4: 2011년, GB/T 32960.2-2016, GB/T 17619 및 GB/T 33014.4. 100KHz의 초저 시작 주파수는 글로벌 자동차 회사의 테스트 요구 사항을 충족하기에 충분합니다. 내장형 3채널 파워 미터가 있으며 방향성 커플러를 사용하여 실시간으로 순방향 및 역방향 파워를 모니터링할 수 있습니다.

    표준 :
    ISO-11452 4  "도로 차량 - 협대역 방사 전자기 에너지로 인한 전기 교란에 대한 구성 요소 테스트 방법 - 4부: 하니스 여기 방법"
    GB / T 32960.2-2016 “전기자동차 원격 서비스 및 관리 시스템의 기술 사양 – 2부: 온보드 터미널”

    시스템 구성 및 기술 매개변수:

    1. 테스트 호스트
    테스트 전류 개방 루프 테스트(대체 테스트) ≤300mA;
    폐루프 테스트 ≤200mA (전자동 교정, 전자동 테스트 및 테스트 중 출력 전력 모니터링)
    출력 임피던스 50Ω
    전압 정재파 비 ≤ 1.2
    중국어 및 영어 소프트웨어 Win7, Win8, Win10, Win11 지원
    2. 신호 소스(내장)
    진동수 9kHz~3GHz
    출력 레벨 -60 ~ 10dBm
    변조되지 않은 신호 연속파
    변조 모드 진폭 변조 주파수:0.1Hz~500kHz;변조 깊이:0~100%
    펄스 변조 주파수:0.1Hz~20kHz;듀티 사이클:1~100%
    3. 파워 앰프(내장)
    출력 주파수 100kHz~400MHz (1GHz까지 확장 가능)
    최대 출력 전력 125W(선형 전력)
    조화적인 <15dBc
    4. 파워미터(내장)
    입력 주파수 9kHz~3GHz
    입력 전원 - 40dBm ~ + 30dBm
    5. 방향성 결합기(내장): 결합도 40dB
    6. F-120-6A 전류 주입 프로브: 최대 입력 전력 1000W
    7. F-52B 전류 모니터 프로브: 최대 입력 전력 1000W
    8. FCC-BCICF-1 대량 전류 주입 프로브 고정 장치: 전류 주입 프로브용 고정 장치
    9. 인공전력망
    표준을 준수하다 CISPR 16-1-2,CISPR 25,ISO 7637-2,ISO 11452-4,MIL-STD-461F,ECE R10
    주파수 범위/임피던스 0.1~150MHz / (5µH + 1Ω) || 50Ω(+/- 10%)
    최대 연속 전류/최대 단시간 전류 200A / 250A
    최대 전압 DC1000V, AC50/60Hz는 400Vrms, AC400Hz는 300Vrms입니다.
    10. 테스트 테이블
    BCI 테스트 테이블 2 * 1 * 0.9m
    BCI 접지 커플링 플레이트 엣지 스트립은 300mm 간격으로 접지되며, 각 접지 스트립의 종횡비는 7:1입니다. 소재: 황동
    기준 접지면 2*1*2mm,재질: 황동
    11. 전자파 차폐 캐비닛: SDR-4000B, 내부 치수는 4000*1200*1800mm입니다(추가 비용으로 선택 가능, 치수는 고객 요구 사항에 따라 설계 가능)

    1부: 테스트 단계:
    A. 시험 전 전류 주입 프로브에서 발생하는 교란 전류가 교정 픽스처의 요구 사항을 충족하는지 확인한 후 전류 프로브를 시험할 하네스의 지정된 위치에 고정합니다.
    B. 교정을 통해 얻은 전방 전력을 기준으로 하네스에 간섭을 적용합니다. 테스트 중에 전류 강도를 모니터링하지 않으며 전방 전력은 더 이상 조정되지 않습니다.
    C. 하네스의 길이와 전류 주입 프로브와 테스트할 하네스 사이의 상대 거리는 테스트할 하네스의 교란 전자기장의 결합 정도에 영향을 미칩니다.

    2부: 테스트 결과 결정: 오픈 루프 방식은 주로 5단계로 나뉘며, 각 단계는 다른 테스트 결과를 나타냅니다.
    A. EUT의 기능이나 성능은 이상 없이 정상적입니다.
    B. 모든 기능 또는 성능이 간섭 상태에 있으며, 하나 이상의 기능/성능이 지정된 허용 오차에서 벗어났지만, 간섭이 제거된 후 모든 기능 또는 성능이 지정된 허용 오차 한도로 복원되고 저장된 데이터에 이상이 없어야 합니다.
    C. 하나 이상의 기능/성능이 상실되지만, EUT는 간섭이 적용된 후 자동으로 정상 모드로 복구됩니다.
    D. 하나 이상의 기능/성능이 상실되었으나 간섭이 가해진 후 인간의 개입을 통해 정상 모드로 복구됩니다.
    마. 하나 이상의 기능/성능이 상실되었으나, 간섭이 가해진 후에는 정상 모드로 복구할 수 없습니다.

    3부: 테스트 시스템 레이아웃(ISO 11452-4 그림 2, 그림 1 및 그림 3 참조):
    1. 기준 접지면: 기준 접지면은 두께가 0.5mm 이상인 금속판, 바람직하게는 황동을 사용합니다. 테스트 벤치와 기준 접지면의 길이와 너비는 최소 1700×1000mm이고 접지 재료의 임피던스는 2.5밀리옴 이하이며 간격은 300mm 이하입니다.
    2. 인공전력망: 원격 접지의 경우 인공전력망 2개가 필요하고, 근단 접지의 경우 인공전력망 1개(양극에 연결)만 필요합니다.
    3. EUT 배치: 테스트 대상 제품은 유전율이 낮고(1.4 이하) 두께가 50(±5)mm인 절연 재료 위에 배치해야 합니다. 테스트 하네스 EUT와 시뮬레이션 부하 하네스의 총 길이는 1000(±100)mm여야 하며, 테스트 하네스는 유전율이 1.4 이하이고 두께가 50(±5)mm인 절연 재료 위에 배치해야 합니다.
    4. 고전류 주입 프로브: 주입 프로브와 EUT 사이의 거리 d는 다음과 같습니다.
    깊이 = (150±10)mm
    깊이 = (450±10)mm
    깊이 = (750±10)mm

    ISO 11452-4:2020 그림 2

    4부: 테스트 보고서 샘플:

    LSBCI 40 데이터

    LSBCI-40 Data

    LSBCI 40 개방 루프 테스트

    LSBCI-40 개방 루프 테스트

    LSBCI 40 폐쇄 루프 테스트

    LSBCI-40 폐쇄 루프 테스트

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