테스트 핀이란 무엇입니까?

프로브라고도 알려진 테스트 핀은 정밀 전기 테스트에 필수적인 구성 요소입니다. 전자 회로 연구 및 생산 과정에서 신호 연결성과 품질을 테스트하고 분석해야 하는 경우가 많습니다. 이때 정밀 테스트 핀을 사용하여 손상 없이 신호를 추출하고 해당 ICT 또는 테스트 시스템에 제공하여 종합적인 분석을 수행합니다. 테스트 핀의 품질은 테스트의 정확성과 반복성에 큰 영향을 미칩니다. 응용 분야에 따라 테스트 핀은 기존 ICT 프로브, 반도체 테스트 프로브, RF 고주파 테스트 프로브, 고전류 프로브 및 배터리 접촉 프로브로 구분됩니다. 프로브의 구조에 따라 기존 단일 헤드 스프링 핀, 이중 헤드 BGA 테스트 핀 및 니들 슬리브 어댑터 이중 헤드 핀으로 나눌 수도 있습니다. 프로브 선택의 초기 단계에서는 테스트 핀의 간격, 테스트 대상에 적합한 헤드 유형, 전류 전달 용량, 이동 스트로크 및 필요한 스프링 힘을 비롯한 여러 주요 매개변수를 고려해야 합니다.