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12월 25, 2021 1471보기 저자: 체리 셴

전도 방출은 테스트 대상 장치(DUT)에서 생성된 노이즈 전류입니다.

전기 공학의 전자기 호환성 문제에는 전자기 결합, 전자 스위칭 및 반도체 장치가 전력 품질에 미치는 영향이 포함됩니다. 전자기 환경에서 전자기 에너지 생성, 전파 및 수신을 제한하거나 줄이는 것은 환경에 연결된 모든 시스템 장치에 영향을 미칩니다. 그만큼 전도 배출 를 사용하여 측정됩니다. EMI 수신기.

회로의 전자기 간섭은 주로 스위치 모드 전원 공급 장치 및 기타 소비자 전자 제품의 증가로 인해 전기 시스템의 선형 및 비선형 부하에 의해 생성된 고조파에 의해 생성됩니다.

가전 ​​제품의 성능은 이러한 결합된 간섭으로 인해 주 전력 시스템의 전력 품질에 부정적인 영향을 받습니다. 주전자, 가열 요소 및 기타 일반 가전 제품의 유도 코일은 루멘 출력 저하, 깜박임 및 열악한 가열로 인해 문제가 발생할 수 있습니다.

또한 전자 장치, 비선형 부하 및 기타 회전 자기장 장치는 모두 DC의 전도 방출에 기여합니다. 전도 방출은 비선형적이며 모터 및 발전기와 같은 부하에 DC 자기장이 있는 경우 예측하기 어렵습니다. 또한, 상당한 연구가 수행되고 있음에도 불구하고 전도 방출이 DC 전원 품질에 미치는 영향에 대해 알려진 바가 없습니다.

DUT에서 생성된 노이즈 전류는 전원 케이블 또는 하니스를 통해 다른 구성 요소/시스템/전력망으로 이동합니다. 전압 및 전류 노이즈 전류를 측정하는 방법도 사용할 수 있습니다.

전도 배출에 대한 심층 분석
통신 공학의 발전으로 인해 점점 더 많은 반도체 기반 스위치 장치가 AC 주전원 그리드 네트워크에 추가되었으며, 이는 근거리 및 원거리 전자기 환경에서 전도 방출로 인해 더 많은 전자기 간섭 문제를 초래했습니다. 전력망은 보다 비선형적인 시스템이 되고 있으며 새로운 전력 품질 문제가 해결되고 있습니다.

EMI-9KB_EMI 수신기 시스템, emi 테스트 장비, emi 스펙트럼

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전도성 방출은 기기에 의해 생성된 전류 또는 전압의 노이즈 또는 기기에 대한 감도로 간주될 수 있습니다. 예를 들어, 신호는 제한된 에너지를 가질 수 있지만 방출은 유한한 양의 에너지를 가질 수 있습니다. 테스트 중인 장비의 방출은 용도에 따라 교류(AC) 또는 직류(DC) 주전원에서 필터링되어야 합니다. LISUN 방출을 위한 최고의 EMI 수신기를 제공합니다.

전자가 회로를 가로질러 흐르는 한 방출원이 있습니다. 표준 EMC 테스트 요구 사항은 전기 항목이 다음 사항에 대해 공장에서 확인되어야 함을 나타냅니다. 전도 배출. 결과적으로 이러한 기준은 다양한 제조업체가 제품 및 보증에 어떻게 부합하는지에 따라 유지됩니다.

EMC가 수행한 방출 테스트
검사 중인 항목에서 생산되는 AC 주전원은 수행되는(DUT) 방출 테스트의 주요 초점입니다. 전원, 신호 또는 데이터 케이블과 같은 DUT의 상호 연결 연결은 전자기 장애(노이즈 전압 및 전류)를 생성한 다음 DUT 밖으로 전송될 수 있습니다.

예를 들어, 도체는 동일한 장치 내부의 다른 전자 부품이나 장치에 도체로 직접 연결할 수 있습니다. 원하지 않는 신호로 인해 잘못된 성능과 같은 문제가 발생할 수 있습니다. EMC 사전 적합성 테스트는 이러한 종류의 테스트로 시작하여 방사 방출 테스트, 방사 내성 및 전도 내성 테스트가 이어집니다. 한계를 로드한 다음 수정 계수를 로드합니다.

Lisun Instruments Limited를(를) 찾았습니다. LISUN GROUP 2003 인치 LISUN 품질 시스템은 ISO9001:2015에 의해 엄격히 인증되었습니다. CIE 회원으로서, LISUN 제품은 CIE, IEC 및 기타 국제 또는 국가 표준을 기반으로 설계되었습니다. 모든 제품은 CE 인증서를 통과했으며 타사 실험실에서 인증했습니다.

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