전자기 간섭이 사람과 전자 장치에 미치는 영향

최근 중국소비자협회에서 전자파가 있는 컴퓨터의 전원 플러그에 관한 공지를 발표했습니다.간섭 이는 전력망의 다른 전자 장치에 영향을 미치고 결국 컴퓨터 충돌로 이어질 수 있습니다. 이러한 간섭의 주요 원인은 컴퓨터의 전원 공급 단자에서 나오는 방사 간섭이 국가 표준에서 정한 한계를 초과하고 이러한 간섭이 다른 전자 장치, 특히 고감도 전자 장치의 정상적인 작동을 방해할 수 있기 때문입니다.

과학기술의 발달과 점점 디지털화되고 고속화되는 전기전자기기가 사회 각 분야에서 사용됨에 따라 전자기 간섭 전기 및 전자 장비의 적용으로 인해 발생하는 전자파 오염 문제도 사회에 가져 왔습니다. 그리고 전자파 공해와 수질 공해, 대기 공해는 현대 사회의 XNUMX대 공해 원인으로 알려져 있습니다. 전자파 장해 문제가 점점 더 심각해짐에 따라 국제무선특별위원회(International Special Committee on Radio)는 간섭 (CISPR)이 CISPR-16을 발행했고, CISPR-15가 유럽표준위원회(European Standard Committee)가 발행했습니다. EN55015 와 EN55022 이러한 조치 및 표준은 포인트 전자 제품 및 기타 사양의 전자파 간섭 제한을 규제하여 전자파 간섭으로 인한 사회적 문제를 줄이기 위해 고안되었습니다.

전자기 간섭(EMI)는 전도성 간섭과 방사 간섭의 두 가지 유형으로 나뉩니다. 전도성 간섭은 전도성 매체를 통해 하나의 전기 네트워크에서 다른 전기 네트워크로의 신호 결합(간섭)을 의미합니다. 복사 간섭은 공간을 통해 신호를 다른 전기 네트워크에 연결(간섭)하는 간섭 소스를 나타냅니다. 고속 PCB 및 시스템 설계에서 고주파 신호 라인, 집적 회로의 핀, 다양한 커넥터 등은 모두 안테나 특성을 가진 방사 간섭 소스가 될 수 있으며 전자파를 방출하고 다른 시스템 또는 다른 시스템의 정상적인 작동에 영향을 미칠 수 있습니다. 동일한 시스템의 하위 시스템. 다들 아시다시피 EMC의 테스트 대상은 전자 및 전기 제품이며 조명 장비는 중요한 부품이므로 당연히 해당 제약 조건도 있습니다. 미국의 FCC 인증, 유럽 연합의 CE 인증 등 LED 조명 장비에 대한 관련 테스트 항목을 제시했습니다. 전자기 간섭과 관련하여 일반적으로 두 가지 원인이 있습니다. 간섭; 하나는 전도성 간섭입니다. 주로 전도성 매체 또는 공통 전력선을 통해 전자 장비에 의해 생성된 간섭 신호가 서로 간섭합니다. LED 램프 FCC 인증 전도성 간섭 스캔 테스트 주파수는 0.15MHz에서 시작하여 30MHz 끝, CE 인증 전도성 간섭 9KHz에서 시작하여 30MHz까지 스캔 테스트 주파수가 종료됩니다.

다른 하나는 전자 장비에서 생성되고 공간을 통해 다른 전기 네트워크에 결합되는 간섭 신호를 주로 나타내는 방사 간섭입니다. FCC 인증 우주 방사선 간섭 LED 램프의 스캔 테스트 주파수는 30MHz ~ 1GHz이며 CE 인증의 공간 방사 간섭 스캔 테스트 주파수는 30KHz ~ 300MHz입니다. 조명 산업에서 EMI에는 주파수 9KHz-30MHz 테스트의 두 가지 방법이 있습니다. 하나는 안테나(Antenna)를 사용하는 것이고 EMI 수신기, 기본 표준은 CISPR15이며, EN55015, GB17743. 조명 장비의 경우 저주파 자기장 장치를 생성할 수 있으므로 채택해야 합니다. CISPR16-1-4 XNUMX링 안테나는 저주파 자기장 방사 간섭을 측정합니다. 주로 XNUMX링 안테나와 EMI 수신기를 사용하여 테스트하며, 차폐실에서 테스트를 수행해야 합니다. 참고: XNUMX링 안테나는 X, Y 및 Z 방향의 저주파 자기장 구성 요소를 RF 신호로 변환하고 측정을 위해 동축 스위치를 통해 XNUMX개 채널의 EMI 수신기로 전송합니다. 또 다른 방법은 LISN 테스트 방법을 사용하는 것입니다. EMI 수신기 + 인공 전력 네트워크 + LISN 및 테스트 소프트웨어에 필요한 테스트입니다. EMI 테스트 시스템은 정상 작동 상태에서 램프의 전원 포트와 조명 장비에 의해 발생하는 간섭을 측정하는 데 사용되며, LISN은 RF 신호의 격리, 샘플링, 임피던스 매칭을 실현하고 EUT에 전기 채널을 제공합니다. , EMI 수신기는 RF 신호를 측정하고 마지막으로 EMI 테스트 소프트웨어는 분석, 처리 및 판단합니다. 테스트는 차폐된 공간에서 이루어져야 합니다.

동시에 9KHz-300MHz 파장 대역 EMI 테스트에는 CDN 방법이 사용됩니다. CISPR15에서는 EN55015 와 GB17743 표준은 또한 다른 유형의 조명 장비를 제공합니다. 전자기장 간섭 테스트 방법, 즉 CDN 공통 모드 단자 전압 방법입니다. CDN 방식을 사용하면 주로 EMI 수신기, CDN 및 감쇠기가 포함됩니다. 시험은 차폐실에서 실시할 수 있습니다. EMI 테스트를 위해 국제전파간섭특별위원회(CISPR)에서 CISPR-16 무선간섭 및 간섭방지 측정기기 및 사양을 공포하였고, 조명산업에 대해서는 국제전파간섭특별위원회에서도 CISPR-15를 제안하였다. 전자 조명 및 관련 장비의 무선 간섭 특성 제한 및 측정 방법은 다양한 국가에서도 국가 상황에 따라 다양한 종류의 EMI 조명 테스트 사양을 제시합니다. EN55015- 유럽 연합에서는 2007년, GB17743-1999년 중국. EU 국가의 경우, EN55015 표준(참조 CISPR-15)은 백열등, 형광등, 자기 정류기 및 에너지 절약 램프와 같은 주파수 100Hz 이상의 기존 조명 장비에 적용됩니다. 이러한 장치는 일반적으로 해당 방사 간섭 제한에 따라 30MHz를 초과하지 않습니다. 그러나 새로운 LED 조명 산업의 경우 일반적으로 주파수는 30MHz 이상이며 CE 인증에는 30MHz에서 300MHz까지의 스캔 주파수가 명확하게 명시되어 있습니다.

에서 두 개의 EMI 테스트 시스템을 개발하고 생산했습니다. LISUN CISPR16과 같은 관련 기본 표준에 따라. 기존 조명 산업 표준과 새로운 조명 산업 표준의 경우 두 장치의 스캐닝 빈도가 다릅니다. KH3962 EMI 스캐닝 주파수는 9KHz-300MHz이며 이는 LED 및 기존 조명 장치 테스트에 적합합니다. KH3961 EMI 스캐닝 주파수는 9KHz-30MHz이며 주로 기존 조명 장치 테스트에 적합합니다. 테스트 대상이 표준을 충족하는지 여부를 판단하기 위해 피크, 준피크, 평균의 세 가지 값을 참조하여 판단합니다. 다양한 표준의 차이점을 고려하여 소프트웨어는 다음과 같은 판단 표준을 직접 호출할 수 있습니다. GB17743, FCC, EN55015, GB4343 등

Lisun Instruments Limited를(를) 찾았습니다. LISUN GROUP 2003 인치 LISUN 품질 시스템은 ISO9001:2015에 의해 엄격히 인증되었습니다. CIE 회원으로서, LISUN 제품은 CIE, IEC 및 기타 국제 또는 국가 표준을 기반으로 설계되었습니다. 모든 제품은 CE 인증서를 통과했으며 타사 실험실에서 인증했습니다.

우리의 주요 제품은 고니 오 포토 미터, 통합 영역, 분광 방 사계, 서지 발생기, ESD 시뮬레이터 건, EMI 수신기, EMC 시험 장비, 전기 안전 시험기, 환경 챔버, 온도 챔버, 기후 챔버, 열 챔버, 염수 분무 시험, 먼지 테스트 챔버, 방수 시험, RoHS 테스트(EDXRF), 글로우 와이어 테스트 와 바늘 화염 테스트.

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